吉时利KEITHLEY4200-SCS的I-V特性测量的应用

　　吉时利KEITHLEY4200-SCS的I-V特性测量的应用是什么?接下来一起看看吧!!!

　   吉时利KEITHLEY源表其中一些主要应用如：

　　·通用超快I-V测量。脉冲式I-V测试具有很广泛的应用，它通过使用窄脉冲和/或低占空比脉冲而不是直流信号，能够防止器件自热效应。

　　·CMOS器件特征分析。4225-PMU/4225-RPM的高速电压源和电流测量灵敏度使得它们非常适合于CMOS器件的特征分析，包括高k器件和先进CMOS工艺，如绝缘体上硅。

　　·非易失性存储器测试。系统安装的KTEI软件提供了用于闪存和相变存储器器件测试的工具包。该系统非常适合于单个存储单元或小规模存储阵列的测试，例如研发或工艺验证之类的应用。

　　·化合物半导体器件与材料的特征分析。能够对III-V族材料进行特征分析，例如氮化镓、砷化镓和其它一些化合物半导体。它允许用户设置一个脉冲偏移电压，然后从非零值进行测量，从而研究器件的放大增益或线性度。

　　·NBTI/PBTI可靠性测试。自动特征分析套件软件还支持全自动晶圆级和晶匣级测试，内置NBTI/PBTI测试库，具有简洁易用的GUI。

　　吉时利KEITHLEY4200-SCS的I-V特性测量

　　keithley吉时利4200-SCS系统实现I-V测量功能的核心单元是SMU (源测量单元) ;

　　SMU集4种功能于- -体:电压源、电压表、电流源、电流表;

　　可以向器件提供驱动电压同时测量电流，也可以向器件提供电流并测量电压;

　　图形化的KITE软件可以轻松地设定测试条件，设定电压或电流，被测点数，保护电压或电流值，完成各种I-V参数测试;

　　SM的数量与被测器件的端口数有关，原则上有几个端口，就要配几个SMU。

　　一般来说，keithley吉时利4200-SCS系统的最基本的组成部分就是I-V部分，I-V测 试是最基本，最核心的测试内容，C-V测试，乃至脉冲I-V的测试都是其扩展部分，根据用户的经费情况和研究的器件类型。来对这个系统进行配置。

　　KEITHLEY吉时利4200-SCS 相关应用：

　　●半导体器件 ●片上参数测试●晶圆级可靠性●封装器件的特性分析●使用Model4200-SCS控制外部LCR表进行C-V、I-V特性分析●高K栅电荷俘获●易受自加热效应影响的器件和材料的等温测试●电荷泵方法分析MOSFET器件的界面态密度●电阻式或电容式MEMS驱动特性分析●光电器件●半导体激光二极管DC/CW特性分析●收发模块DC/CW特性分析●PIN和APD特性分析●科技开发;碳纳米管特性分析●材料研究●电化学