怎样使用KEITHLEY吉时利2450数字源表测量半导体器件C-V的性能

　　怎样使用KEITHLEY吉时利2450数字源表测量半导体器件C-V的性能

　　电容器-电压(C-V)测量广泛用于半导体参数的测量，在进行C-V测量时，通常在电容器的两端施加DC偏压，同时使用交流信号进行测量。通常，这种测量中使用的交流信号频率在10KHz到10MHz之间。装载的DC偏压被用作DC电压扫描，在扫描过程中测试待测设备的交流电压和电流，从而计算出不同电压下的电容值。

　　KEITHLEY吉时利2450系统应用优势。

　　吉时利2450型触摸屏数字源表是集I-V特性测试、曲线跟踪器和半导体分析仪功能于一体的低成本数字源表。吉时利2450丰富的功能也适合集成到自动测试系统中

　　●嵌入式测试脚本处理器(TSP):将完整的测量程序加载到仪器的非易失性存储器中，不依赖外部PC控制器，生产能力更高。

　　●TSP-Link通信总线:支持测试系统扩展，实现多台2450仪器和其他基于TSP技术仪器的系统扩展，扩展的测试系统最多可连接32台2450，在主机的TSP控制下进行多点或多通道并行测试。

　　●兼容2400工作模式:除2450SCPI工作模式外，2450还支持2400SCPI工作模式，兼容现有2400SCPI程序。这保护了用户的软件投资，避免了仪器升级带来的测试软件转换。

　　●PC连接和自动化:后板三同轴电缆连接端口、仪器通信接口(GPIB、USB2.0和LXI/Ethernet)、D型9针数字I/O端口(用于内部/外部触发信号和机械臂控制)、仪器安全互锁装置和TSP-Link连接端口

　　代表性应用

　　KEITHLEY源表非常适合于当前各种现代电子设备的电流/电压特性分析和功能测试，包括：

　　1.测试纳米材料和器件的性能，如石墨烯，碳纳米管，纳米线，低功率纳米结构等;

　　2.测试半导体结构，如晶片，薄膜。

　　3.用电子油墨、印刷电子技术等有机材料和器件的测试。

　　4.LED/AMOLED、光伏/太阳电池、电池测试等能源效率和照明测试;

　　分离装置与被动元件一起进行测试，例如双引线：电阻、二极管、齐纳、二极管、LED、磁盘驱5.动器磁头、光驱、感应器、三引线：小信号双极节晶体管、场效应晶体管等。

　　6.电阻率，霍尔效应等材料特性分析。