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新闻中心吉时利 6514 静电计(高阻电表)的测试功能介绍
● 测量低电流和高压、电阻和电荷
● 高达 10P 的电阻测量
● 电流灵敏度最低 10aA (6430)
● 电压负担最低 200mV
● 杰出的精度和灵敏度
● 根据 ASTM D257 标准执行绝缘电阻系数测量
吉时利6514 是无内置激励源的高灵敏静电计,仅测直流信号,四大核心测量模式:直流电流 I、直流电压 V、高阻 Ω、电荷 Q,搭配屏蔽保护、归零、滤波、高速采集等配套功能,主打皮安 / 飞安级微电流、GΩ 超高绝缘电阻、微弱电荷测量。

一、四大基础测量功能(核心测量模式)
1. 直流电流测量(I,最强优势)
量程:100 aA ~ 20 mA,噪声<1 fA,极低输入压降(最低 20 μV),适合极小漏电流采集Tektronix
可测项目:
器件反向漏电流、介质绝缘漏电、芯片 IO 关态漏电
光电探测器暗电流(PD/APD 无光照漏流)、微弱光生电流
薄膜、绝缘材料微泄电流、MEMS 微小偏置电流
半导体晶圆栅漏电流、电容静置漏电流、静电微弱泄放电流
特点:低 burden 电压,不会给被测器件引入额外偏置误差,搭配三同轴低噪电缆消除引线漏电。
2. 直流电压测量(V)
量程:10 μV ~ 200 V,输入阻抗>200 TΩ(超高输入阻,几乎不吸取电流)泰克
可测项目:
高阻材料、压电材料、驻极体表面静电电位
高阻抗传感器开路电压、光电元件开路光电压
绝缘介质表面电位、薄膜光伏开路弱电压
适用场景:测量高内阻源电压,普通万用表会分流导致读数失真,6514 无分流误差。
3. 电阻测量(Ω,高阻测试核心)
量程:10 mΩ ~ 200 GΩ,采用恒流激励测压降计算电阻(区别 6517B 恒压测阻)
可测项目:
1)超高绝缘电阻:PCB 介质、塑料薄膜、陶瓷、绝缘胶、封装树脂、晶圆氧化层绝缘阻值
2)半导体关态电阻、电容绝缘内阻、防静电材料表面 / 体电阻
3)漏阻、隔离电阻、高阻薄膜、压电材料内阻
配套保护屏蔽 Guard 模式:消除夹具、线缆寄生漏电流干扰,大幅提升 GΩ 级电阻测量精度。
4. 电荷测量(Q)
量程:10 fC ~ 20 μC,积分采集电荷变化量Tektronix
可测项目:
静电放电 ESD 电荷量、摩擦起电电荷、驻极体存储电荷
压电 / 铁电材料受压产生电荷、光电元件积分光电荷
电容充放电微量电荷、介质极化电荷漂移
原理:内部积分放大器,持续累积微弱电流换算电荷,适合静电、压电类材料表征。
二、配套辅助测试功能(提升低电平测量精度)
Zero Check 归零校验
切换接线、更换器件前一键短路输入,消除仪器零点漂移、线缆寄生漏电,是飞安级测量必备操作。
Guard 保护屏蔽
三同轴接口屏蔽驱动,抵消 HI-LO 之间线缆 / 夹具漏电阻、分布电容,解决高阻测试漂移、读数跳变问题。
滤波 / 平均滤波(AVER)
多级数字平均,抑制环境电磁噪声,适合超微弱 aA/fA 电流稳定读数。
自动 / 手动量程切换(AUTO RANGE)
自动匹配信号大小,也可锁定固定量程提升采集速度;支持定点量程长期监控。
延时采样(DELAY)
施加偏压后等待设定时间再读数,用于介质吸收电流、极化漏电测试(电容 / 绝缘材料静置漏电曲线)。
高速读数采集
最高 1200 读数 / 秒,可连续记录电流、电阻、电荷随时间变化曲线,做老化、应力漂移监测泰克。
偏移抵消(REL 相对测量)
存储基线值,直接显示差值,快速读取增量漏电流、电荷变化量。
三、自动化与系统集成功能
程控接口:GPIB、RS232,支持 SCPI 指令,适配探针台、高低温箱、自动化测试平台
触发采集:外部硬件触发,同步外部设备(电压源、开关矩阵)做组合 I-V / 漏电测试
数据存储:本地缓存读数,远程电脑连续记录长时间应力数据
兼容多路开关矩阵:搭配吉时利 7001/7002 实现多通道并行漏电、高阻批量分选
四、典型行业应用测试项目汇总
1. 半导体 / 晶圆
栅极漏电流、氧化层绝缘电阻、二极管反向漏流、PD 暗电流、芯片封装漏电、CP 晶圆绝缘筛查
2. 光电器件
VCSEL/LED 反向漏电、光电二极管暗电流、光伏薄膜开路电压、积分光电荷
3. 材料 / 绝缘 / 静电
薄膜体电阻 / 表面电阻、陶瓷绝缘电阻、防静电材料、ESD 静电电荷、压电 / 铁电电荷特性
4. 无源元器件
高压电容漏电流、电阻高阻温漂、继电器隔离绝缘电阻
5. MEMS / 传感器
微结构漏电流、压电传感器电荷输出、高阻传感元件内阻
补充区分(与 6517B 关键差异)
吉时利6514无内置高压激励源,只能被动测量;如需主动施加电压测高阻 / 漏电,需外接独立源表(如 2410、4500-MTS)配合使用;6517B 自带 1kV 内置源,可独立完成恒压高阻测试。


