工业4.0时代 测试测量将面临哪些挑战?

在举步迈入工业4.0时代的当下，测试测量将面临哪些挑战?如何用最新的解决方案轻松面对这些挑战?“移动互联网、智能硬件、复合材料和超低功耗等热门技术的崛起，同时带来了新一轮的设计和测试测量技术革新。吉时利将聚焦工业4.0

时代下的多种最新行业规范测试标准，与业界分享吉时利最新的突破性产品及相关的测试测量解决方案，助力自主创新并迎接工业4.0的测试测量挑战!”

物联网/智慧可穿戴设备功耗测试挑战及解决方案

随着物联网热潮的到来，可穿戴设备成为了半导体市场中当下的热点话题，数十亿物联网和可穿戴设备即将涌入市场，工程师们面临着一系列低功耗智能穿戴设备量测和优化的挑战。

为了能得到更准确地测量功耗，测量设备需要具有极低的电流测试敏感度以及极高的采样速度，以往可用的测试设备往往需要企业数万美元的投资，而且难以操作。吉时利最新推出的多台专门为低功耗测量而设计的仪器，帮助用户精确地捕获瞬态低功率信号，并且节省设备成本，在可穿戴设备市场中夺得先机、获得竞争力。

全新功率电子的测试测量挑战

高效能功率电子的设计，受益于功率半导体器件技术的日益成熟，半导体器件具有了更低漏流，更低工作阻抗，更高击穿电压，更快开关速度的特性。这些高性能的半导体器件的生产、制造和集成对当今的测试测量测量技术提出了崭新的

挑战。大家了解PCT系统如何能够快速分析器件特性，进行深度的参数分析，同时了解吉时利Touch-Test-Invent源表产品的革新用户界面，让测试变得更加容易。与此同时，参会者还会了解到泰克功率分析仪系列产品，用于优化高效能电能转化设计中的严苛的IEC、CE、Energy Star和更多的测试标准。

吉时利经典测试测量和行业解决方案

吉时利推出业界的第一台数字源表——Source Measure Unit®是20多年前的事，从问世以来，这款革命性的产品对当今生活的世界产生了很大的影响。日常生活中的各类显示屏、照明LED、安全气囊、太阳能电池……都是经由源表测试而来。

半导体特性分析系统 – CV和脉冲IV测量和应用

电容-电压(C-V)测试测试可以让研发人员从测试结果中提取出许多至关重要的参数，如氧化层厚度、表面电荷密度、德拜长度和费米能级等。吉时利在C-V 测试方面有着丰富的经验，商业化的测试如何实现电容测量，以及通过对探针台chuck电容及噪声的分析来看如何避免在电容测试中引入人为误差，同时将会重申一些关键的测试设置及技术以保证电容测试的准确性。

使用新型电池模拟器加快电池供电产品的设计验证

电池模拟/快速瞬态响应电源被设计用来测试便携式电池供电的产品，如智能手机和无线芯片组、蓝牙耳机、数码相机和GPS接收器。吉时利新一代电池模拟器2281S，在一台设备上集成了电池测试与电池仿真功能。可以根据电池测试结果自动生成电池模型，并使用电池模型仿真电池特性，真实准确的模拟电池在充放电过程中的电性能变化。通过简单的设置达到所需的电池状态，大幅度加快电池供电产品的设计验证速度的优势，为设计人员的研发工作提高效率。